国内首台实验室级“纳米分辨X射线微分相衬显微镜”（国家重大科研仪器研制项目-自由申请）顺利通过现场考察

2025年12月22日，由中国科学院深圳先进技术研究院（以下简称“深圳先进院”）、医学成像科学与技术系统全国重点实验室葛永帅研究员牵头的国家重大科研仪器研制项目（自由申请）“纳米分辨 X 射线微分相衬显微镜”现场考察会在深圳顺利召开。

图1：仪器考察会开幕式照片。

本次考察会议由专家组组长、深圳大学郭金川教授主持。与会专家还包括首都师范大学赵星教授、大连理工大学孙怡教授、武汉大学任峰教授、中国科学院广州生物医药与健康研究院刘兴国研究员、中国科学院沈阳金属研究所王绍钢研究员。深圳先进院副院长梁栋研究员、医工所常务副所长孟龙研究员分别代表项目牵头单位致辞，对与会专家莅临指导表示欢迎，也对基金委的支持表示衷心感谢。另外，项目合作单位中国科学院高能物理研究所朱佩平研究员也出席了本次会议。

图2：仪器现场考察照片。

项目负责人葛永帅研究员围绕项目基本情况、仪器研制进展、指标完成情况、研究成果等方面，系统汇报了项目整体进展与指标完成情况。汇报结束后，专家组实地考察了仪器工作情况，现场测试了仪器的成像性能、运行状态，审察了相关指标与数据的测试结果。

图3：（a）Siemens星状卡（中国科学技术大学制作）SEM图，（b）本仪器成像结果，可以清晰分辨30nm精细结构，（c）分辨率功率谱表明仪器的极限分辨率达到28.5nm。

经过充分质询与讨论，专家组一致认为：基于新型X射线波带片与光栅干涉仪相融合的成像原理，成功研制了国内首台实验室级多衬度（吸收、相位、散射）纳米CT成像科研仪器，Siemens星状卡测试结果表明仪器具备了28.5nm空间分辨的成像能力，核心X射线光学元件（波带片、光栅、分辨率卡等）均实现国产化。仪器工作状态良好，关键技术指标达到预期目标，部分技术指标达到国际先进水平，具备开展相关实验与应用研究的能力，同意通过现场测试。

图4：利用本仪器获得的细胞样品的成像结果，从左到右依次为：吸收衬度、相位衬度、散射衬度、三维相位CT图。

此次现场考察会的顺利召开，标志着“纳米分辨X射线微分相衬显微镜”研制工作已完成全部指标任务，为下一步正式完成项目结题验收提供坚实可靠的支撑，未来将进一步推动我国高端科研仪器自主创新与前沿应用高质量发展。